PTI 250RS

      •   具備研究用干涉儀所需要的高功能性及靈活性。 
      •   在2秒內，可產生多于300,000個像素的定量三維圖。 
      •   位相測量干涉儀，精度大于λ/100。 
      •   采用FlashPhase數(shù)據采集方法，在不穩(wěn)定及有振動的環(huán)境下仍能測量
      •   采用標準的Zygo MetroPro界面――干涉檢測的標準。 
      •   可測曲率半徑 (選用)。

PTI 250F

      •   經濟實用的生產用位相調制干涉儀。 
      •   采用FlashPhase數(shù)據采集方法可在干擾較大的生產環(huán)境下進行可靠測量。 
      •   可產生多于300,000 個像素的定量表面形態(tài)圖。 
      •   采用FlashPhase作位相測量。 
      •   采用標準的Zygo MetroPro 軟件，多語言支持的操作界面。 
      •   可測曲率半徑 (選用)。

PTI 250P

      •   生產用位相調制干涉儀。 
      •   可產生多于300,000個像素的定量表面形態(tài)圖。 
      •   位相測量干涉儀，精度大于λ/100。 
      •   采用MetroPro軟件，多語言支持的操作界面。 
      •   可測曲率半徑 (選用)。

PTI 250V

      •   生產用快速檢測干涉儀。 
      •   目測條紋方式，檢測產品。 
      •   可測曲率半徑 (選用)。 
      •   可升級到PTI 250F 和PTI 250P 。