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Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

  • 更新時間:2024-08-20
  • 瀏覽次數(shù):947

Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀
型號:SURTRONIC DUO
探頭系統(tǒng):探頭系統(tǒng)
表面粗糙度測量范圍:199μm,40μm
掃描路徑:5mm
表面粗糙度分辨率:0.01μm
閾值波長:0.8 mm

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品牌TaylorHobson/英國泰勒霍普森產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域化工,電子,交通,航天,汽車

Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

篤摯儀器代理的英國泰勒霍普森粗糙度測量裝置SURTRONIC DUO,具有內(nèi)部進(jìn)料單元的移動粗糙度測量裝置,小巧便攜,通用功能,用戶友好的界面,適合地板等表面粗糙度測量。



篤摯儀器(上海)有限公司介紹

銷售機(jī)電產(chǎn)品、機(jī)械設(shè)備、自動化設(shè)備、環(huán)保設(shè)備、電線電纜、汽摩配件、建材、金屬材料及制品、五金交電、儀器儀表、通訊產(chǎn)品及器材、辦公用品、計算機(jī)軟硬件及輔助設(shè)備(除計算機(jī)信息系統(tǒng)安全產(chǎn)品)、橡塑制品,商務(wù)信息咨詢,投資管理,機(jī)電設(shè)備維修,計算機(jī)、機(jī)械設(shè)備專業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)。


Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

型號:SURTRONIC DUO
探頭系統(tǒng):探頭系統(tǒng)
表面粗糙度測量范圍:199μm,40μm
掃描路徑:5mm
表面粗糙度分辨率:0.01μm
閾值波長:0.8 mm
數(shù)據(jù)傳輸類型:USB



Taylor SURTRONIC DUO粗糙度測量儀

應(yīng)用:
用戶友好的移動粗糙度測量裝置,用于參數(shù)Ra,Rz,Rp,Rv,Rt,Rz1max,R3z(戴姆勒DB N 31007),Rsk,Rq和Rku的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度測量。

執(zhí)行:
3.7“彩色液晶顯示屏,zui多顯示4個測量值
拆分顯示和進(jìn)紙單元
兩臺機(jī)器之間的藍(lán)牙連接(zui大距離2米)
粗糙度參數(shù)符合DIN ISO和ASME標(biāo)準(zhǔn)
顯示主要輪廓/參數(shù)Pa,Pz,Pp,Pv和Pt
集成滑蓋式探頭,金剛石為5μm
可以通過迷你USB端口充電

優(yōu)點(diǎn):
InstantOn,從待機(jī)模式到測量模式只需5秒鐘
操作簡單直觀,無需培訓(xùn)
測量值保存到下次測量為止
電池壽命每次充電可達(dá)3000次測量






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