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德國EPK*MiniTest7400測厚儀

  • 更新時間:2019-12-23
  • 瀏覽次數(shù):731

德國EPK*MiniTest7400測厚儀
德國EPK高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理,新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。新概念的優(yōu)勢直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機幫助,使用簡易。大背光按鍵,即使戴著手套操作,也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供的觀察效果,即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。

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品牌ElektroPhysik/德國EPK價格區(qū)間面議
應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,汽車

德國EPK*MiniTest7400測厚儀

    鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來引入微機技術(shù)后,采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。

 

    篤摯儀器(上海)有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè),用于評價材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能,推動著精良制造技術(shù)的精益求精。

篤摯儀器(上海)有限公司
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德國EPK*MiniTest7400測厚儀

德國EPK高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理,新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。新概念的優(yōu)勢直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機幫助,使用簡易。大背光按鍵,即使戴著手套操作,也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供的觀察效果,即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準及參數(shù)設(shè)置,無需專業(yè)技能,也可在短的時間內(nèi)完成困難測量任務(wù)。
良好的數(shù)據(jù)管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設(shè)置批組。除了數(shù)字顯示讀數(shù),層次清楚的顯示統(tǒng)計值和讀數(shù)包括趨勢圖和直方圖、過程能力指數(shù)”Cp”和“Cpk”以及組統(tǒng)計值。錯誤的讀數(shù)可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯誤的統(tǒng)計值。   龐大的數(shù)據(jù)儲存器為必要的數(shù)據(jù)管理,可保存高達500批組的250,000個讀數(shù)。為滿足高精度測量的要求,7400探頭可達到5點校準(包括零點)。


預(yù)設(shè)的校準方法符合工業(yè)準則和ISO 19840,SSPC,“瑞典”,“澳大利亞”的測量標準。 此外,延伸的特殊校準方法也適用于粗糙表面的測量。 為了方便建立和評估測量值組和各種數(shù)據(jù)格式的輸出,標準配置包括計算機軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數(shù)據(jù)如文本、Excel®分析總表或PDF文檔,并允許筆記和注解條目。特點:測量樣品的圖片可以添加到數(shù)據(jù)報告中。 配備眾多的接口,MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。
紅外接口(IrDA®1.0)可作為標準配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設(shè)備,如外借電源、耳機、腳踏開關(guān)或警報器。對于單個裝置連接,則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉(zhuǎn)換器。模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢。
SIDSP®明顯優(yōu)勢EPK此項探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理新技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標準。高精度,高重現(xiàn)性,對溫度變化不敏感,適應(yīng)性強,這些都是SIDSP®的主要特點。

 

篤摯儀器有限公司代理的德國epk MiniTest7400涂層測厚儀探頭的適應(yīng)性有色金屬的導(dǎo)電性可能會有所不同。對這些基體使用自動補償,基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能,可以測量多種導(dǎo)電性不同的有色金屬材料,無需特別在基體上校準儀器。所有的SIDSP®探頭充分地適應(yīng)測量各種幾何形狀的樣品。可以對不規(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時,整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進行校準。 探頭設(shè)計選擇不同的線纜插口類型更加靈活,來適應(yīng)測試要求。每個標準探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計,后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。 對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供終保護,MiniTest 7400提供了一個特制的堅固探頭系列(HD探頭)。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。對于粗糙表面,“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

 

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